产品详情
简单介绍：
STZ-8型半导体导电型号鉴别仪
是为了鉴别硅单晶材料的导电类型 “P”和 “N”的测量仪器,是采用温差效应和整流效应两种方法相结合综合性的测量导电型号仪器,测量范围广硅材料电阻率从10-4~103Ω?cm,仪器采用高灵敏度放大电路和判别电路，将材料上的微弱信号放大，并用 “P” “N”数码直接显示，仪器采用手持式四探然探头，使用简单，操作方便，且寿命长，适合半导体材料厂、器件厂和科研部门需要。
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STZ-8型半导体导电型号鉴别仪
STZ—8型半导体导电型号鉴别仪是为了鉴别硅单晶材料的导电类型“P”和 “N”的测量仪器,是采用温差效应和整流效应两种方法相结合综合性的测量导电型号仪器,测量范围广硅材料电阻率从10-4~103Ω•cm,仪器采用高灵敏度放大电路和判别电路，将材料上的微弱信号放大，并用 “P” “N”数码直接显示，仪器采用手持式四探然探头，使用简单，操作方便，且寿命长，适合半导体材料厂、器件厂和科研部门需要。
用作太阳能多晶材料分选时,采用整流法,对<0.1Ω-cm的材料具有声光报警功能,广泛应用于太阳能电池生产的原材料筛选环节,快速高效。
主要技术指标：
1． 测量范围：硅单晶材料电阻率10-4~103Ω•cm
温差法：10-4~10Ω•cm
整流法：10~103Ω•cm，并对<0.1Ω•cm的材料具有声光报警功能。
2． 可测量材料：半导体硅棒和硅片，及硅碎颗粒。
可测半导体材料尺寸：Φ15~Φ150 mm以上。
3． 显示方式：P、N 灯显示。
4． 测试探头：手持式探针间距3 mm 探针Φ1mm 高速钢
5． 电源：220V 50HZ 20W
6． 仪器尺寸：100×260×260
